Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

31.080.99 Ostatní polovodičové součástky

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
152 results
První strana124678...111213Poslední strana
BS IEC 60747-18-3:2019
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 60747-5-9:2019
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 60747-5-11:2019
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 61967-2:2005
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Measurement of radiated emissions. TEM cell and wideband TEM cell method
Vydáno: 2006-01-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 63068-2:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Test method for defects using optical inspection
Vydáno: 2019-02-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 62047-6:2010
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Axial fatigue testing methods of thin film materials
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 62047-18:2013
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bend testing methods of thin film materials
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 63068-3:2020
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Test method for defects using photoluminescence
Vydáno: 2020-07-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 62047-22:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 62047-40:2021
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Vydáno: 2021-09-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 63068-4:2022
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Vydáno: 2022-09-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS IEC 62951-9:2022
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
152 Výsledky
První strana124678...111213Poslední strana
Email, na který Vám přijde odpověď
Vaše jméno