Cena s DPH / bez DPH
31.080.99 Ostatní polovodičové součástky
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Vydáno: 2019-04-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 62047-20:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Gyroscopes
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Gyroscopes
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN 62830-3:2017
Semiconductor devices. Semiconductor devices for energy harvesting and generation Vibration based electromagnetic energy harvesting
Semiconductor devices. Semiconductor devices for energy harvesting and generation Vibration based electromagnetic energy harvesting
Vydáno: 2017-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN 62258-1:2010
Semiconductor die products Procurement and use
Semiconductor die products Procurement and use
Vydáno: 2010-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8410 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8410 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN 62047-3:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Thin film standard test piece for tensile testing
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Thin film standard test piece for tensile testing
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 62047-14:2012
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Forming limit measuring method of metallic film materials
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Forming limit measuring method of metallic film materials
Vydáno: 2012-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8410 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8410 Kč
BS IEC 62047-36:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Vydáno: 2019-04-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN IEC 60747-15:2024
Semiconductor devices Discrete devices. Isolated power semiconductor devices
Semiconductor devices Discrete devices. Isolated power semiconductor devices
Vydáno: 2024-12-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč