Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
191 results
První strana123...91113141516Poslední strana
BS EN IEC 61207-2:2019
Expression of performance of gas analyzers Measuring oxygen in gas utilizing high-temperature electrochemical sensors
Vydáno: 2019-09-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN ISO 15796:2008
Gas analysis. Investigation and treatment of analytical bias
Vydáno: 2009-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS ISO 21222:2020
Surface chemical analysis. Scanning probe microscopy. Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
Vydáno: 2020-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS ISO 16962:2017
Surface chemical analysis. Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
Vydáno: 2017-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
BS EN ISO 6145-10:2008
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods Permeation method
Vydáno: 2009-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS ISO 7504:2015
Gas analysis. Vocabulary
Vydáno: 2015-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS ISO 24237:2005
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Repeatability and constancy of intensity scale
Vydáno: 2005-09-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS ISO 23812:2009
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Vydáno: 2009-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS ISO 28600:2011
Surface chemical analysis. Data transfer format for scanning-probe microscopy
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS ISO 14237:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN ISO 21079-2:2008
Chemical analysis of refractories containing alumina, zirconia, and silica. Refractories containing 5 percent to 45 percent of ZrO2 (alternative to the X-ray fluorescence method) Wet chemical analysis
Vydáno: 2009-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
PD ISO/TR 22335:2007
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtering rate. Mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
Vydáno: 2007-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
191 Výsledky
První strana123...91113141516Poslední strana