Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
188 results
První strana123...91012141516Poslední strana
BS ISO 14975:2000
Surface chemical analysis. Information formats
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 23812:2009
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Vydáno: 2009-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 28600:2011
Surface chemical analysis. Data transfer format for scanning-probe microscopy
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS ISO 7504:2015
Gas analysis. Vocabulary
Vydáno: 2015-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 15471:2016 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
BS EN 50980-1:2019
Remote alcohol monitoring devices. Test methods and performance requirements Instruments for assessment programmes
Vydáno: 2019-11-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS ISO 20903:2019 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8932 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8932 Kč
BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2022-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 17973:2024 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Medium-resolution Auger electron spectrometers. Calibration of energy scales for elemental analysis
Vydáno: 2024-07-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
BS ISO 6142-2:2024
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures Gravimetric method for Class II mixtures
Vydáno: 2024-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 17109:2022 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2023-01-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8932 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8932 Kč
25/30469630 DC
BS ISO 4508 Surface chemical analysis - Scanning probe microscopy - Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements
Vydáno: 2025-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
188 Výsledky
První strana123...91012141516Poslední strana