Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
186 results
První strana123...91012141516Poslední strana
BS ISO 13084:2018 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Vydáno: 2020-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS EN 61207-6:2015 - TC
Tracked Changes. Expression of performance of gas analyzers Photometric analyzers
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 14701:2018
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Vydáno: 2018-11-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
PD IEC/TR 62456:2007
An electrochemical reference system for use in different solvent media. The decamethylated ferricinium/ferrocene redox couple
Vydáno: 2007-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS ISO 15471:2016
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2016-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
23/30464018 DC
BS EN ISO 6143. Gas analysis. Comparison methods for determining and checking the composition of calibration gas mixtures
Vydáno: 2023-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS ISO 17109:2022 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2023-01-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2022-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 6142-2:2024
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures Gravimetric method for Class II mixtures
Vydáno: 2024-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
24/30481996 DC
BS ISO 11505. Surface chemical analysis. General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Vydáno: 2024-11-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
25/30469630 DC
BS ISO 4508 Surface chemical analysis - Scanning probe microscopy - Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements
Vydáno: 2025-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS ISO 17973:2024 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Medium-resolution Auger electron spectrometers. Calibration of energy scales for elemental analysis
Vydáno: 2024-07-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6660 Kč
186 Výsledky
První strana123...91012141516Poslední strana