Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS IEC 60747-14-2:2000
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 62779-3:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Functional type and its operational conditions
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Functional type and its operational conditions
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 60749-36:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acceleration, steady state
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acceleration, steady state
Vydáno: 2003-06-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč
BS EN 60749-1:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods General
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods General
Vydáno: 2003-07-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč
BS QC 750100:1986+A2:1996
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Sectional specification
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Sectional specification
Vydáno: 2010-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Vydáno: 2008-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS IEC 796-1:1990
Microprocessor system bus. 8-bit and 16-bit data MULTIBUS I Functional description with electrical and timing specifications
Microprocessor system bus. 8-bit and 16-bit data MULTIBUS I Functional description with electrical and timing specifications
Vydáno: 1991-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8568 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8568 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7616 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7616 Kč
BS IEC 62880-1:2017
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Vydáno: 2020-07-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč