Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN IEC 60749-23:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2026-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118.00 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118.00 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888.00 Kč
BS IEC 62880-1:2017
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Vydáno: 2020-07-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728.00 Kč
BS QC 750100:1986+A2:1996
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Sectional specification
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Sectional specification
Vydáno: 2010-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814.00 Kč
BS EN 60749-9:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Vydáno: 2017-11-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118.00 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728.00 Kč
BS EN 60749-21:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728.00 Kč
BS EN 60749-7:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814.00 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
5800.00 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5800.00 Kč