Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS IEC 60747-14-2:2000
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors Hall elements
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 62779-3:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Functional type and its operational conditions
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Functional type and its operational conditions
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60749-36:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acceleration, steady state
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acceleration, steady state
Vydáno: 2003-06-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 60749-1:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods General
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods General
Vydáno: 2003-07-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
5452 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5452 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Vydáno: 2008-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN 60749-9:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Vydáno: 2017-11-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč