Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN IEC 60749-7:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2026-01-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-23:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2026-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
11078 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11078 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
BS EN IEC 60749-21:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Vydáno: 2026-02-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
PD ES 59008-5-2:2001
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die with added connection structures
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die with added connection structures
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 60749-2:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Low air pressure
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Low air pressure
Vydáno: 2002-09-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč