Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
190 results
První strana124678...141516Poslední strana
25/30513804 DC
Draft BS IEC 63581-1 Semiconductor devices. The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1. Classification of defects
Vydáno: 2025-03-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-34-1:2025
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling test for power semiconductor module
Vydáno: 2025-08-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
26/30510433 DC
Draft BS EN 62047-54 Ed.1.0 Micro-electromechanical devices Part 54: Silicon based MEMS fabrication technology - Test method of microstructure tensile
Vydáno: 2026-01-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30510419 DC
Draft BS EN 63551-6 Semiconductor devices - Detection modules of autonomous land vehicle Part 6: Testing methods of performance for visual imaging modules
Vydáno: 2025-11-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-21:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Vydáno: 2026-02-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9454 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9454 Kč
BS EN IEC 60749-23:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2026-02-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
5800 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5800 Kč
BS EN 60191-6-19:2010
Mechanical standardization of semiconductor devices Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
Vydáno: 2010-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60191-6-6:2001
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Design guide for fine pitch land grid array (FLGA)
Vydáno: 2001-09-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 62830-5:2021
Semiconductor devices. Semiconductor devices for energy harvesting and generation Test method for measuring generated power from flexible thermoelectric devices
Vydáno: 2021-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 62415:2010
Semiconductor devices. Constant current electromigration test
Vydáno: 2010-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS IEC 60747-14-10:2019
Semiconductor devices Semiconductor sensors. Performance evaluation methods for wearable glucose sensors
Vydáno: 2019-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
190 Výsledky
První strana124678...141516Poslední strana