Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
190 results
První strana123...91011121315Poslední strana
BS EN IEC 60749-39:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
Vydáno: 2022-03-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60749-16:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 60068-2-77:1999
Environmental testing. Test methods Body strength and impact shock
Vydáno: 1999-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 62615:2010
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
13/30290462 DC
BS EN 60191-1. Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1. General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Vydáno: 2013-09-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 60749-42:2014
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature and humidity storage
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
23/30478757 DC
BS EN IEC 63287-3. Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Part 3. Guidelines for reliability qualification plans for power semiconductor module
Vydáno: 2023-08-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
25/30512405 DC
Draft BS EN 61582 Ed.2.0 Radiation protection instrumentation - Portable, transportable or installed equipment for in vivo measurement of photon emitting radionuclides
Vydáno: 2025-04-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30513132 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 5: Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2025-03-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30509883 DC
Draft BS EN 63608-1 Semiconductor devices - Reliability evaluation methods for vibration energy harvesters Part 1: Mechanical reliability under shock
Vydáno: 2025-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
190 Výsledky
První strana123...91011121315Poslední strana