Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8160 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
5880 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5880 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Vydáno: 2020-09-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
5880 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5880 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7320 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7320 Kč
BS EN IEC 62435-9:2021
Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices Special cases
Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices Special cases
Vydáno: 2021-10-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN IEC 63244-1:2021
Semiconductor devices. Semiconductor devices for wireless power transfer and charging General requirements and specifications
Semiconductor devices. Semiconductor devices for wireless power transfer and charging General requirements and specifications
Vydáno: 2021-11-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7320 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7320 Kč
BS EN IEC 63287-1:2021
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Guidelines for IC reliability qualification
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Guidelines for IC reliability qualification
Vydáno: 2021-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8280 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8280 Kč