Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
194 results
První stranaPředchozí strana123...910111213...151617DalšíPoslední stranaBS EN 62779-1:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS 3934-5:1997
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Vydáno: 1997-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 60749-14:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Vydáno: 2003-12-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60749-33:2004
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
Vydáno: 2004-06-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 60749-34:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 60749-29:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 60747-14-4:2011
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
10092 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10092 Kč
194 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...910111213...151617DalšíPoslední strana