Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
188 results
První strana123...91011131516Poslední strana
BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Vydáno: 2023-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
24/30506674 DC
BS EN IEC 63287-4 Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans Part 4: Early failure assessment
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30510059 DC
BS EN IEC 63378-2-2 Thermal standardization on semiconductor packages Part 2-2: 3D thermal simulation models of semiconductor packages for steady-state analysis - PBGA and FBGA packages
Vydáno: 2025-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30511533 DC
Draft BS EN 63378-6-1 Thermal standardization on semiconductor packages Part 6-1. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points. Model creation method using a datasheet of semiconductor device
Vydáno: 2025-04-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-20-1:2026
Semiconductor devices ? Mechanical and climatic test methods Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2026-03-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS EN IEC 63378-6:2026
Thermal standardization on semiconductor packages Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points
Vydáno: 2026-03-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS EN IEC 60749-24:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2026-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
26/30553853 DC
Draft BS EN IEC 60747-5-6/AMD1 ED2 Amendment 1 - Semiconductor devices
Vydáno: 2026-01-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60747-16-6:2019
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Vydáno: 2019-09-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 60749-31:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Vydáno: 2003-07-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS IEC 60747-18-2:2020
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules
Vydáno: 2020-02-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60749-35:2006
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
188 Výsledky
První strana123...91011131516Poslední strana