Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
194 results
První strana123...101113151617Poslední strana
BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system Test method of sound variation detection
Vydáno: 2023-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
25/30511533 DC
Draft BS EN 63378-6-1 Thermal standardization on semiconductor packages Part 6-1. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points. Model creation method using a datasheet of semiconductor device
Vydáno: 2025-04-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30510059 DC
BS EN IEC 63378-2-2 Thermal standardization on semiconductor packages Part 2-2: 3D thermal simulation models of semiconductor packages for steady-state analysis - PBGA and FBGA packages
Vydáno: 2025-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30510415 DC
Draft BS EN 63551-5 Semiconductor devices - Detection modules of autonomous land vehicle Part 5: Testing methods of performance for ultrasonic modules
Vydáno: 2025-11-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
26/30551904 DC
BS EN IEC 62047-61 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems Part 61: Evaluation methods of localized deformation and stretchability for Hybrid MEMS materials
Vydáno: 2026-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
26/30551908 DC
BS EN IEC 62047-62 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems Part 62: Electrical resistance test method for hybrid MEMS materials under combined tensile and torsional deformation
Vydáno: 2026-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30511310 DC
Draft BS EN 62047-56 Micro-electromechanical devices Part 56. Test method for characteristics of MEMS metal oxide semiconductor (MOS) type gas sensor
Vydáno: 2025-07-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30511332 DC
Draft BS EN 60747-17 Ed.2.0 Semiconductor devices Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation
Vydáno: 2025-08-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-20-1:2026
Semiconductor devices ? Mechanical and climatic test methods Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2026-03-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS EN IEC 63378-6:2026
Thermal standardization on semiconductor packages Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points
Vydáno: 2026-03-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS EN IEC 60749-24:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2026-01-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-24:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2026-02-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
194 Výsledky
První strana123...101113151617Poslední strana