Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS IEC 62615:2010
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS IEC 62779-4:2020
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Vydáno: 2020-07-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS IEC 62880-1:2017
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Semiconductor devices. Stress migration test standard Copper stress migration test standard
Vydáno: 2020-07-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Vydáno: 2023-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS IEC 63284:2022
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Vydáno: 2022-11-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS IEC 796-1:1990
Microprocessor system bus. 8-bit and 16-bit data MULTIBUS I Functional description with electrical and timing specifications
Microprocessor system bus. 8-bit and 16-bit data MULTIBUS I Functional description with electrical and timing specifications
Vydáno: 1991-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8280 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8280 Kč