Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
190 results
První strana123...81012...141516Poslední strana
BS EN IEC 60749-22-2:2026
Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Bond strength — Wire bond shear test methods
Vydáno: 2026-01-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS EN IEC 62007-2:2025
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Vydáno: 2025-09-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN IEC 62007-2:2025 - TC
Tracked Changes. Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Vydáno: 2025-10-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
12470 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12470 Kč
BS EN IEC 60749-26:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Vydáno: 2026-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
13108 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13108 Kč
26/30544424 DC
Draft BS EN 62047-59 Ed.1.0 Micro-electromechanical systems Part 59: Test methods for performances of MEMS multi-orifice balanced differential pressure flowmeter
Vydáno: 2026-02-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 60191-6-3:2001
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)
Vydáno: 2001-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60749-29:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 60191-6-21:2010
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of small outline packages (SOP)
Vydáno: 2010-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 60191-6-17:2011
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for stacked packages. Fine-pitch ball grid array and fine-pitch land grid array (P-PFBGA and P-PFLGA)
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 60747-14-4:2011
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
10092 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10092 Kč
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Vydáno: 2020-09-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
190 Výsledky
První strana123...81012...141516Poslední strana