Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
194 results
První strana135678...151617Poslední strana
BS EN IEC 60749-28:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Vydáno: 2022-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
BS IEC 62951-9:2022
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
5800 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5800 Kč
BS IEC 60747-5-9:2019
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60068-2-13:2021
Environmental testing Tests. Test M: Low air pressure
Vydáno: 2021-04-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
25/30510337 DC
Draft BS EN 63378-4 Thermal standardization on semiconductor packages Part 4. Thermal evaluation board specifications for fine pitch semiconductor packages
Vydáno: 2025-03-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30513804 DC
Draft BS IEC 63581-1 Semiconductor devices. The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1. Classification of defects
Vydáno: 2025-03-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
26/30510433 DC
Draft BS EN 62047-54 Ed.1.0 Micro-electromechanical devices Part 54: Silicon based MEMS fabrication technology - Test method of microstructure tensile
Vydáno: 2026-01-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30510419 DC
Draft BS EN 63551-6 Semiconductor devices - Detection modules of autonomous land vehicle Part 6: Testing methods of performance for visual imaging modules
Vydáno: 2025-11-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 63287-2:2023
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
Vydáno: 2023-05-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
194 Výsledky
První strana135678...151617Poslední strana