Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN 60749-40:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS EN 60749-42:2014
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature and humidity storage
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature and humidity storage
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3780 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6240 Kč
BS EN 60749-4:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Vydáno: 2017-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN 60749-6:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3780 Kč
BS EN 60749-7:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN 60749-8:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Sealing
Vydáno: 2003-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč
BS EN 60749-9:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Permanence of marking
Vydáno: 2017-11-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3780 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3780 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8700 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8700 Kč
BS EN 62007-2:2009
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Vydáno: 2009-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7320 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7320 Kč
BS EN 62298-3:2005
Teleweb application Superteletext profile
Teleweb application Superteletext profile
Vydáno: 2005-10-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9960 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9960 Kč
BS EN 62374-1:2010
Semiconductor devices Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Semiconductor devices Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4500 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4500 Kč