Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
190 results
První strana123468...141516Poslední strana
BS EN IEC 60749-15:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Vydáno: 2020-10-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 61582:2006
Radiation protection instrumentation. In vivo counters. Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
Vydáno: 2006-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
BS EN 60749-44:2016
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Vydáno: 2016-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN IEC 60749-39:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
Vydáno: 2022-03-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
BS IEC 63378-2-1:2024
Thermal standardization on semiconductor packages 3D thermal simulation models of semiconductor packages for steady-state analysis. Discrete packages
Vydáno: 2024-10-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
25/30510635 DC
Draft BS EN 63567-3 Semiconductor devices - Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 3: Nano-scale wafer surface inspection method using UV light
Vydáno: 2025-08-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-7:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2026-01-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-23:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2026-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN IEC 60749-20-1:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2026-03-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
11078 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11078 Kč
BS EN IEC 60749-7:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2026-02-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
BS EN IEC 60749-21:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Vydáno: 2026-02-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS IEC 60747-14-5:2010
Semiconductor devices Semiconductor sensors. PN-junction semiconductor temperature sensor
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
190 Výsledky
První strana123468...141516Poslední strana