Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
178 results
První strana135678...131415Poslední strana
BS EN IEC 60749-28:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Vydáno: 2022-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS IEC 62951-9:2022
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
5800 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5800 Kč
BS IEC 60747-5-9:2019
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence
Vydáno: 2020-01-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60068-2-13:2021
Environmental testing Tests. Test M: Low air pressure
Vydáno: 2021-04-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 63287-2:2023
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
Vydáno: 2023-05-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
24/30495067 DC
BS EN 60601-2-93 Medical electrical equipment Part 2-93: Particular requirements for the basic safety and essential performance of neutron capture therapy equipment
Vydáno: 2024-06-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
26/30510433 DC
Draft BS EN 62047-54 Ed.1.0 Micro-electromechanical devices Part 54: Silicon based MEMS fabrication technology - Test method of microstructure tensile
Vydáno: 2026-01-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 60747-5-4:2022+A1:2024
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
Vydáno: 2025-01-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
178 Výsledky
První strana135678...131415Poslední strana