Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
178 results
První strana123578...131415Poslední strana
BS EN IEC 60749-26:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
BS IEC 62830-5:2021
Semiconductor devices. Semiconductor devices for energy harvesting and generation Test method for measuring generated power from flexible thermoelectric devices
Vydáno: 2021-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 62007-2:2009
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Vydáno: 2009-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
PD ES 59008-5-2:2001
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die with added connection structures
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN 60749-2:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Low air pressure
Vydáno: 2002-09-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN IEC 60749-15:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Vydáno: 2020-10-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN 61582:2006
Radiation protection instrumentation. In vivo counters. Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
Vydáno: 2006-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
BS EN 60749-44:2016
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Vydáno: 2016-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
18/30383935 DC
BS EN IEC 62047-37. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 37. Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2018-12-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 62435-9:2021
Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices Special cases
Vydáno: 2021-10-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-39:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
Vydáno: 2022-03-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
23/30472390 DC
BS EN 60747-16-11 Semiconductor devices Part 16-11. Microwave integrated circuits - Power detectors
Vydáno: 2023-04-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
178 Výsledky
První strana123578...131415Poslední strana