Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
172 results
První strana123578...131415Poslední strana
BS EN 61582:2006
Radiation protection instrumentation. In vivo counters. Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
Vydáno: 2006-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN 60749-44:2016
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Vydáno: 2016-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN IEC 60749-39:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
Vydáno: 2022-03-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
BS EN IEC 60749-15:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Vydáno: 2020-10-01
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN IEC 62435-9:2021
Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices Special cases
Vydáno: 2021-10-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60191-3:2000
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits
Vydáno: 2000-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN IEC 60749-26:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN 62374-1:2010
Semiconductor devices Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
23/30477062 DC
BS EN IEC 62007-2. Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Part 2. Measuring methods
Vydáno: 2023-07-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-28:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Vydáno: 2022-12-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
12470 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12470 Kč
BS IEC 62951-8:2023
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
Vydáno: 2023-01-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
24/30501951 DC
BS EN IEC 60749-26 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Vydáno: 2024-11-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
172 Výsledky
První strana123578...131415Poslední strana