Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
170 results
První strana123578...131415Poslední strana
BS EN 60749-44:2016
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Vydáno: 2016-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60191-3:2000
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits
Vydáno: 2000-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
BS EN 62374-1:2010
Semiconductor devices Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 62415:2010
Semiconductor devices. Constant current electromigration test
Vydáno: 2010-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
PD ES 59008-5-2:2001
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die with added connection structures
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 60749-26:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Vydáno: 2018-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
BS EN 60191-6-4:2003
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA)
Vydáno: 2003-08-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 62435-9:2021
Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices Special cases
Vydáno: 2021-10-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-28:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Vydáno: 2022-12-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
12900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12900 Kč
BS IEC 62951-8:2023
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
Vydáno: 2023-01-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30501951 DC
BS EN IEC 60749-26 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Vydáno: 2024-11-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 63378-2-1:2024
Thermal standardization on semiconductor packages 3D thermal simulation models of semiconductor packages for steady-state analysis. Discrete packages
Vydáno: 2024-10-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
170 Výsledky
První strana123578...131415Poslední strana