Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
PD ES 59008-5-1:2001
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die
Vydáno: 2001-07-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
PD ES 59008-4-1:2001
Data requirements for semiconductor die. Specific requirements and recommendations Test and quality
Data requirements for semiconductor die. Specific requirements and recommendations Test and quality
Vydáno: 2001-03-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Vydáno: 2007-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 60749-11:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Vydáno: 2003-10-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč