Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
23/30472390 DC
BS EN 60747-16-11 Semiconductor devices Part 16-11. Microwave integrated circuits - Power detectors
BS EN 60747-16-11 Semiconductor devices Part 16-11. Microwave integrated circuits - Power detectors
Vydáno: 2023-04-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30499009 DC
BS IEC 63581-1 Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1: Classification of defects
BS IEC 63581-1 Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1: Classification of defects
Vydáno: 2024-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60749-4:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Vydáno: 2017-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60749-6:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 60749-40:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč