Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
23/30472390 DC
BS EN 60747-16-11 Semiconductor devices Part 16-11. Microwave integrated circuits - Power detectors
BS EN 60747-16-11 Semiconductor devices Part 16-11. Microwave integrated circuits - Power detectors
Vydáno: 2023-04-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 60747-1:2006+A1:2010
Semiconductor devices General
Semiconductor devices General
Vydáno: 2010-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8700 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8700 Kč
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Vydáno: 2013-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 60747-14-4:2011
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9900 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Vydáno: 2020-09-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60749-29:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč