Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
170 results
První strana123468...131415Poslední strana
23/30477062 DC
BS EN IEC 62007-2. Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Part 2. Measuring methods
Vydáno: 2023-07-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
23/30472390 DC
BS EN 60747-16-11 Semiconductor devices Part 16-11. Microwave integrated circuits - Power detectors
Vydáno: 2023-04-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 62951-8:2023
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
Vydáno: 2023-01-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-28:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Vydáno: 2022-12-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
12900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12900 Kč
BS IEC 60747-14-5:2010
Semiconductor devices Semiconductor sensors. PN-junction semiconductor temperature sensor
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60191-6-20:2010
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ)
Vydáno: 2010-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60191-6:2009
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS EN 60749-4:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Vydáno: 2017-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-38:2008
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Soft error test method for semiconductor devices with memory
Vydáno: 2008-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 60747-10:1991
Semiconductor devices Generic specification for discrete devices and integrated circuits
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS EN 60749-20-1:2009
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2009-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
170 Výsledky
První strana123468...131415Poslední strana