Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
188 results
První strana123468...141516Poslední strana
18/30383935 DC
BS EN IEC 62047-37. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 37. Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2018-12-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-28:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
Vydáno: 2022-12-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
13108 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13108 Kč
BS IEC 62951-8:2023
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
Vydáno: 2023-01-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
23/30472390 DC
BS EN 60747-16-11 Semiconductor devices Part 16-11. Microwave integrated circuits - Power detectors
Vydáno: 2023-04-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30499009 DC
BS IEC 63581-1 Semiconductor devices - The recognition criteria of defects in polished indium phosphide wafers Part 1: Classification of defects
Vydáno: 2024-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS IEC 63378-2-1:2024
Thermal standardization on semiconductor packages 3D thermal simulation models of semiconductor packages for steady-state analysis. Discrete packages
Vydáno: 2024-10-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-23:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2026-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4118 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4118 Kč
BS EN IEC 60749-20-1:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2026-03-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
11078 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
11078 Kč
BS EN IEC 60749-7:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2026-02-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6786 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6786 Kč
BS EN IEC 60749-21:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
Vydáno: 2026-02-04
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS EN IEC 60749-7:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2026-01-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
25/30510635 DC
Draft BS EN 63567-3 Semiconductor devices - Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 3: Nano-scale wafer surface inspection method using UV light
Vydáno: 2025-08-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
188 Výsledky
První strana123468...141516Poslední strana