Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
178 results
První stranaPředchozí strana123...56789...131415DalšíPoslední stranaBS EN 60749-38:2008
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Soft error test method for semiconductor devices with memory
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Soft error test method for semiconductor devices with memory
Vydáno: 2008-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
BS IEC 60747-10:1991
Semiconductor devices Generic specification for discrete devices and integrated circuits
Semiconductor devices Generic specification for discrete devices and integrated circuits
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7224 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7224 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7224 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7224 Kč
BS EN 60749-4:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Vydáno: 2017-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7224 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7224 Kč
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3752 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3752 Kč
BS 7241:1989
Specification for IEC 822 VSB: parallel sub-system bus of the IEC 821 VME bus
Specification for IEC 822 VSB: parallel sub-system bus of the IEC 821 VME bus
Vydáno: 1990-03-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS EN 60749-6:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3752 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3752 Kč
BS EN 60749-40:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6160 Kč
BS EN 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Vydáno: 2007-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3752 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3752 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
178 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...56789...131415DalšíPoslední strana