Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
172 results
První stranaPředchozí strana123...7891011...131415DalšíPoslední strana24/30502907 DC
BS EN IEC 60749-22-2 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods
BS EN IEC 60749-22-2 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30497542 DC
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2023-03-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 60749-34:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 62779-1:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS 3934-5:1997
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Vydáno: 1997-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Vydáno: 2013-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 60747-14-4:2011
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9570 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9570 Kč
BS EN 60749-14:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Vydáno: 2003-12-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
172 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...7891011...131415DalšíPoslední strana