Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
170 results
První strana123...7911...131415Poslední strana
BS EN 60191-6-8:2001
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Design guide for glass sealed ceramic quad flatpack (G-QFP)
Vydáno: 2001-11-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 62007-1:2015+A1:2022
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Specification template for essential ratings and characteristics
Vydáno: 2022-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
23/30469010 DC
BS EN IEC 63378-3. Thermal standardization on semiconductor packages Part 3. Thermal circuit simulation models of discrete semiconductor packages for transient analysis
Vydáno: 2023-02-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2023-03-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
24/30506674 DC
BS EN IEC 63287-4 Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans Part 4: Early failure assessment
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
24/30497538 DC
BS EN IEC 60749-7 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
25/30510059 DC
BS EN IEC 63378-2-2 Thermal standardization on semiconductor packages Part 2-2: 3D thermal simulation models of semiconductor packages for steady-state analysis - PBGA and FBGA packages
Vydáno: 2025-02-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
25/30511533 DC
Draft BS EN 63378-6-1 Thermal standardization on semiconductor packages Part 6-1. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points. Model creation method using a datasheet of semiconductor device
Vydáno: 2025-04-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Vydáno: 2020-09-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60749-29:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
170 Výsledky
První strana123...7911...131415Poslední strana