Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
169 results
První strana123...7911...131415Poslední strana
BS EN 60749-20-1:2009
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2009-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS 7241:1989
Specification for IEC 822 VSB: parallel sub-system bus of the IEC 821 VME bus
Vydáno: 1990-03-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9900 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9900 Kč
BS EN 60749-6:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60749-4:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Vydáno: 2017-11-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60191-6-20:2010
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ)
Vydáno: 2010-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 60747-14-5:2010
Semiconductor devices Semiconductor sensors. PN-junction semiconductor temperature sensor
Vydáno: 2010-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-40:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Vydáno: 2007-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60749-11:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Vydáno: 2003-10-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60191-6-8:2001
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Design guide for glass sealed ceramic quad flatpack (G-QFP)
Vydáno: 2001-11-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
169 Výsledky
První strana123...7911...131415Poslední strana