Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
177 results
První strana123...7911...131415Poslední strana
BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2023-03-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Vydáno: 2023-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
24/30502907 DC
BS EN IEC 60749-22-2 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
24/30497109 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 5. Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2024-07-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
24/30497546 DC
BS EN IEC 60749-24 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 24. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
24/30497542 DC
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
25/30539990 DC
Draft BS EN 63364-2 Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system Part 2: Test method of semiconductor photon sources incorporating human factors for wearable equipment
Vydáno: 2025-11-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
BS EN IEC 62007-2:2025 - TC
Tracked Changes. Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Vydáno: 2025-10-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
12040 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12040 Kč
BS EN IEC 62007-2:2025
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Vydáno: 2025-09-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8568 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8568 Kč
BS EN 60749-34:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč
BS EN 60191-6-17:2011
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for stacked packages. Fine-pitch ball grid array and fine-pitch land grid array (P-PFBGA and P-PFLGA)
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS IEC 60747-9:2019
Semiconductor devices Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
Vydáno: 2019-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9744 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9744 Kč
177 Výsledky
První strana123...7911...131415Poslední strana