Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
188 results
První strana123...7911...141516Poslední strana
BS EN 60191-6-20:2010
Mechanical standardization of semiconductor devices General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ)
Vydáno: 2010-12-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS IEC 60747-14-11:2021
Semiconductor devices Semiconductor sensors. Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature
Vydáno: 2021-03-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
BS IEC 62779-4:2020
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Vydáno: 2020-07-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2023-03-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
BS EN IEC 62007-1:2015+A1:2022
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Specification template for essential ratings and characteristics
Vydáno: 2022-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7888 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7888 Kč
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Vydáno: 2023-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6728 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6728 Kč
24/30497109 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 5. Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2024-07-12
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-26:2026 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
Vydáno: 2026-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
13108 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13108 Kč
25/30539990 DC
Draft BS EN 63364-2 Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system Part 2: Test method of semiconductor photon sources incorporating human factors for wearable equipment
Vydáno: 2025-11-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 62007-2:2025
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
Vydáno: 2025-09-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN IEC 60749-22-1:2026
Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Bond strength — wire bond pull test methods
Vydáno: 2026-01-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9338 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9338 Kč
188 Výsledky
První strana123...7911...141516Poslední strana