Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
186 results
První strana123...91011121315Poslední strana
BS ISO 14237:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN ISO 21079-2:2008
Chemical analysis of refractories containing alumina, zirconia, and silica. Refractories containing 5 percent to 45 percent of ZrO2 (alternative to the X-ray fluorescence method) Wet chemical analysis
Vydáno: 2009-04-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
PD ISO/TR 22335:2007
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtering rate. Mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
Vydáno: 2007-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 28600:2011
Surface chemical analysis. Data transfer format for scanning-probe microscopy
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS EN ISO 6145-10:2008
Gas analysis. Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods Permeation method
Vydáno: 2009-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 7504:2015
Gas analysis. Vocabulary
Vydáno: 2015-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 13084:2018 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Vydáno: 2020-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
PD IEC/TR 62456:2007
An electrochemical reference system for use in different solvent media. The decamethylated ferricinium/ferrocene redox couple
Vydáno: 2007-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 61207-6:2015 - TC
Tracked Changes. Expression of performance of gas analyzers Photometric analyzers
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 14701:2018
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Vydáno: 2018-11-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS ISO 15471:2016
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2016-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS ISO 17109:2022 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2023-01-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
186 Výsledky
První strana123...91011121315Poslední strana