Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
188 results
První strana123...91011121315Poslední strana
BS EN ISO 10723:2012
Natural gas. Performance evaluation for analytical systems
Vydáno: 2013-05-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7482 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7482 Kč
BS ISO 18115-2:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Vocabulary Terms used in scanning-probe microscopy
Vydáno: 2022-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
12470 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
12470 Kč
BS EN IEC 61207-3:2019 - TC
Tracked Changes. Gas Analyzers. Expression of performance Paramagnetic oxygen analysers
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
10498 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10498 Kč
BS ISO 18114:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Vydáno: 2021-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
5452 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5452 Kč
BS ISO 14707:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES). Introduction to use
Vydáno: 2021-06-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
PD ISO/TR 14187:2020
Surface chemical analysis. Characterization of nanostructured materials
Vydáno: 2020-07-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
PD ISO/TR 15969:2021 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
Vydáno: 2021-06-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
BS ISO 16531:2020
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Vydáno: 2020-10-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 19229:2019 - TC
Tracked Changes. Gas analysis. Purity analysis and the treatment of purity data
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8932 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8932 Kč
BS ISO 14606:2022
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
Vydáno: 2023-02-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS ISO 18115-1:2023 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Vocabulary General terms and terms used in spectroscopy
Vydáno: 2023-06-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
13398 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
13398 Kč
BS EN 50436-7:2024 - TC
Tracked Changes. Alcohol interlocks. Test methods and performance requirements Installation document
Vydáno: 2024-09-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
188 Výsledky
První strana123...91011121315Poslední strana