Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>71 CHEMICKÁ TECHNOLOGIE>71.040 Analytická chemie>71.040.40 Chemická analýza

71.040.40 Chemická analýza

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
186 results
První strana123...91011121315Poslední strana
PD ISO/TR 22335:2007
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtering rate. Mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
Vydáno: 2007-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 50980-1:2019
Remote alcohol monitoring devices. Test methods and performance requirements Instruments for assessment programmes
Vydáno: 2019-11-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
BS ISO 14701:2018 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Vydáno: 2020-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 20903:2019 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
Vydáno: 2020-02-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 15471:2016 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6660 Kč
BS ISO 15471:2016
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
Vydáno: 2016-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 61207-6:2015 - TC
Tracked Changes. Expression of performance of gas analyzers Photometric analyzers
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS ISO 14701:2018
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
Vydáno: 2018-11-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
PD IEC/TR 62456:2007
An electrochemical reference system for use in different solvent media. The decamethylated ferricinium/ferrocene redox couple
Vydáno: 2007-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS ISO 13084:2018 - TC
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Vydáno: 2020-02-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS 6337-3:1983
General methods of chemical analysis Method for determination of iron content (1,10-phenanthroline spectrophotometric method)
Vydáno: 1983-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films
Vydáno: 2022-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
186 Výsledky
První strana123...91011121315Poslední strana