Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
167 results
První strana1245678...121314Poslední strana
BS IEC 60747-19-1:2019
Semiconductor devices Smart sensors. Control scheme of smart sensors
Vydáno: 2019-11-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60749-32:2003+A1:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2011-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60749-25:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature cycling
Vydáno: 2003-10-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-20:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Vydáno: 2020-10-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN IEC 60749-39:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
Vydáno: 2022-03-07
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-16:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60068-2-77:1999
Environmental testing. Test methods Body strength and impact shock
Vydáno: 1999-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 62615:2010
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
13/30290462 DC
BS EN 60191-1. Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1. General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Vydáno: 2013-09-10
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
22/30451588 DC
BS EN 63150-3 Ed.1.0. Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Part 3. Human foot impact motion
Vydáno: 2022-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 60747-5-15:2022
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
Vydáno: 2022-07-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
167 Výsledky
První strana1245678...121314Poslední strana