Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 60747-1:2006+A1:2010
Semiconductor devices General
Semiconductor devices General
Vydáno: 2010-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8568 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8568 Kč
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Vydáno: 2013-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods External visual examination
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 60747-14-4:2011
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Semiconductor devices. Discrete devices Semiconductor accelerometers
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9744 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9744 Kč
BS EN 60749-14:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Vydáno: 2003-12-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Vydáno: 2020-09-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS EN 60749-29:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Latch-up test
Vydáno: 2011-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6160 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 62779-2:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Characterization of interfacing performances
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Characterization of interfacing performances
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN IEC 63244-1:2021
Semiconductor devices. Semiconductor devices for wireless power transfer and charging General requirements and specifications
Semiconductor devices. Semiconductor devices for wireless power transfer and charging General requirements and specifications
Vydáno: 2021-11-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
7616 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7616 Kč
BS EN IEC 60749-12:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Vydáno: 2018-04-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč