Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS IEC 63284:2022
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Vydáno: 2022-11-11
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
24/30506674 DC
BS EN IEC 63287-4 Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans Part 4: Early failure assessment
BS EN IEC 63287-4 Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans Part 4: Early failure assessment
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30511332 DC
Draft BS EN 60747-17 Ed.2.0 Semiconductor devices Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation
Draft BS EN 60747-17 Ed.2.0 Semiconductor devices Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation
Vydáno: 2025-08-26
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 62298-3:2005
Teleweb application Superteletext profile
Teleweb application Superteletext profile
Vydáno: 2005-10-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9570 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9570 Kč
BS IEC 62615:2010
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 60749-16:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN IEC 60747-16-6:2019
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Vydáno: 2019-09-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč