Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
178 results
První strana123...891011121315
BS EN IEC 63378-3:2025
Thermal standardization on semiconductor packages Thermal circuit simulation models of discrete semiconductor packages for transient analysis
Vydáno: 2025-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4424 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4424 Kč
24/30502824 DC
BS EN IEC 60749-22-1 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 22-1: Bond strength - wire bond pull test methods
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
25/30509883 DC
Draft BS EN 63608-1 Semiconductor devices - Reliability evaluation methods for vibration energy harvesters Part 1: Mechanical reliability under shock
Vydáno: 2025-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
23/30478757 DC
BS EN IEC 63287-3. Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Part 3. Guidelines for reliability qualification plans for power semiconductor module
Vydáno: 2023-08-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
BS IEC 60747-5-4:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
Vydáno: 2023-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
10136 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10136 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6216 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6216 Kč
24/30491834 DC
Draft BS EN 60747-14-12 ED1 Semiconductor devices Part 14-12: Semiconductor sensors - Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors
Vydáno: 2024-04-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
25/30510639 DC
Draft BS EN 63567-4 Semiconductor devices. Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 4. Evaluation methods for dimensional accuracy of laser dicing process
Vydáno: 2025-06-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
25/30512405 DC
Draft BS EN 61582 Ed.2.0 Radiation protection instrumentation - Portable, transportable or installed equipment for in vivo measurement of photon emitting radionuclides
Vydáno: 2025-04-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
25/30513132 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 5: Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2025-03-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
178 Výsledky
První strana123...891011121315