Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
170 results
První stranaPředchozí strana123...678910...131415DalšíPoslední stranaAnglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60749-6:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Storage at high temperature
Vydáno: 2017-11-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 60749-40:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge
Vydáno: 2011-09-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
PD ES 59008-5-1:2001
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die
Data requirements for semiconductor die. Particular requirements and recommendations for die types Bare die
Vydáno: 2001-07-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods High temperature operating life
Vydáno: 2011-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS IEC 62779-4:2020
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication Capsule endoscope
Vydáno: 2020-07-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
24/30497546 DC
BS EN IEC 60749-24 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 24. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
BS EN IEC 60749-24 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 24. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30497542 DC
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
BS EN IEC 60749-21 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Part 21. Solderability
Vydáno: 2024-09-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
170 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...678910...131415DalšíPoslední strana