Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
170 results
První stranaPředchozí strana123...678910...131415DalšíPoslední stranaBS IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for thermal characteristics of flexible materials
Vydáno: 2019-03-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
PD ES 59008-6-2:2001
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Data requirements for semiconductor die. Exchange data formats and data dictionary Data dictionary
Vydáno: 2001-06-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN 60749-24:2004
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 60747-5-5:2020
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Photocouplers
Vydáno: 2020-09-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9180 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9180 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Mechanical standardization of semiconductor devices Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
Vydáno: 2007-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60749-11:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
Vydáno: 2003-10-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Vydáno: 2023-03-27
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Vydáno: 2023-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6600 Kč
BS EN IEC 60749-10:2022
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Mechanical shock. device and subassembly
Vydáno: 2022-08-16
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
170 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...678910...131415DalšíPoslední strana