Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN 60749-33:2004
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
Vydáno: 2004-06-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
Vydáno: 2013-01-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 60749-14:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Robustness of terminations (lead integrity)
Vydáno: 2003-12-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN 62779-1:2016
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Semiconductor devices. Semiconductor interface for human body communication General requirements
Vydáno: 2016-06-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS 3934-5:1997
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Mechanical standardization of semiconductor devices Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
Vydáno: 1997-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 60749-17:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Neutron irradiation
Vydáno: 2019-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 60749-18:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Ionizing radiation (total dose)
Vydáno: 2020-11-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
BS EN IEC 63244-1:2021
Semiconductor devices. Semiconductor devices for wireless power transfer and charging General requirements and specifications
Semiconductor devices. Semiconductor devices for wireless power transfer and charging General requirements and specifications
Vydáno: 2021-11-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
7740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
7740 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS EN 60749-34:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling
Vydáno: 2011-02-28
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč
BS EN IEC 60749-12:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Vibration, variable frequency
Vydáno: 2018-04-18
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4020 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4020 Kč