Cena s DPH / bez DPH
31.080.01 Polovodičové součástky obecně
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
BS EN 60749-32:2003+A1:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2011-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč
BS EN 60749-25:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature cycling
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature cycling
Vydáno: 2003-10-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 62298-3:2005
Teleweb application Superteletext profile
Teleweb application Superteletext profile
Vydáno: 2005-10-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9744 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9744 Kč
BS EN 60749-16:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Particle impact noise detection (PIND)
Vydáno: 2004-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč
BS IEC 62615:2010
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Electrostatic discharge sensitivity testing. Transmission line pulse (TLP). Component level
Vydáno: 2011-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
BS IEC 62483:2013
Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices
Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices
Vydáno: 2013-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9016 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9016 Kč
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test
Semiconductor devices. Metallization stress void test
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN IEC 60747-16-6:2019
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
Vydáno: 2019-09-02
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS EN IEC 63287-1:2021
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Guidelines for IC reliability qualification
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Guidelines for IC reliability qualification
Vydáno: 2021-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
8568 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8568 Kč
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS IEC 60747-19-1:2019
Semiconductor devices Smart sensors. Control scheme of smart sensors
Semiconductor devices Smart sensors. Control scheme of smart sensors
Vydáno: 2019-11-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč