Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
170 results
První strana123...8910111214Poslední strana
BS EN 60749-32:2003+A1:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2011-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 60749-25:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature cycling
Vydáno: 2003-10-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 60747-18-2:2020
Semiconductor devices Semiconductor bio sensors. Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules
Vydáno: 2020-02-21
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60749-35:2006
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Vydáno: 2006-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN 60749-42:2014
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Temperature and humidity storage
Vydáno: 2014-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
25/30509883 DC
Draft BS EN 63608-1 Semiconductor devices - Reliability evaluation methods for vibration energy harvesters Part 1: Mechanical reliability under shock
Vydáno: 2025-02-06
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30513132 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 5: Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2025-03-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
25/30512405 DC
Draft BS EN 61582 Ed.2.0 Radiation protection instrumentation - Portable, transportable or installed equipment for in vivo measurement of photon emitting radionuclides
Vydáno: 2025-04-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30502824 DC
BS EN IEC 60749-22-1 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 22-1: Bond strength - wire bond pull test methods
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30491834 DC
Draft BS EN 60747-14-12 ED1 Semiconductor devices Part 14-12: Semiconductor sensors - Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors
Vydáno: 2024-04-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
23/30478757 DC
BS EN IEC 63287-3. Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Part 3. Guidelines for reliability qualification plans for power semiconductor module
Vydáno: 2023-08-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
170 Výsledky
První strana123...8910111214Poslední strana