Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
170 results
První strana123...8910111214Poslední strana
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test
Vydáno: 2010-08-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6660 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6660 Kč
24/30491834 DC
Draft BS EN 60747-14-12 ED1 Semiconductor devices Part 14-12: Semiconductor sensors - Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors
Vydáno: 2024-04-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 60747-5-4:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
Vydáno: 2023-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10860 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10860 Kč
23/30478757 DC
BS EN IEC 63287-3. Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines Part 3. Guidelines for reliability qualification plans for power semiconductor module
Vydáno: 2023-08-17
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 60747-5-15:2022
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
Vydáno: 2022-07-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
22/30451588 DC
BS EN 63150-3 Ed.1.0. Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Part 3. Human foot impact motion
Vydáno: 2022-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2023-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4740 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4740 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9240 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9240 Kč
25/30510639 DC
Draft BS EN 63567-4 Semiconductor devices. Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 4. Evaluation methods for dimensional accuracy of laser dicing process
Vydáno: 2025-06-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
25/30512405 DC
Draft BS EN 61582 Ed.2.0 Radiation protection instrumentation - Portable, transportable or installed equipment for in vivo measurement of photon emitting radionuclides
Vydáno: 2025-04-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
25/30513132 DC
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 5: Test method for defects using X-ray topography
Vydáno: 2025-03-14
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
600 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
600 Kč
170 Výsledky
První strana123...8910111214Poslední strana