Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.01 Polovodičové součástky obecně

31.080.01 Polovodičové součástky obecně

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
172 results
První strana123...8910111214Poslední strana
BS EN 60749-32:2003+A1:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2011-03-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS EN 60068-2-77:1999
Environmental testing. Test methods Body strength and impact shock
Vydáno: 1999-09-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
22/30451588 DC
BS EN 63150-3 Ed.1.0. Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Part 3. Human foot impact motion
Vydáno: 2022-03-29
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS IEC 60747-5-15:2022
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
Vydáno: 2022-07-19
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS EN IEC 60749-5:2024 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test
Vydáno: 2024-02-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6438 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6438 Kč
BS IEC 60747-5-4:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices Optoelectronic devices. Semiconductor lasers
Vydáno: 2023-10-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
10498 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
10498 Kč
24/30491834 DC
Draft BS EN 60747-14-12 ED1 Semiconductor devices Part 14-12: Semiconductor sensors - Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors
Vydáno: 2024-04-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
24/30502824 DC
BS EN IEC 60749-22-1 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 22-1: Bond strength - wire bond pull test methods
Vydáno: 2024-12-13
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using an accelerometer
Vydáno: 2022-12-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8932 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8932 Kč
25/30510639 DC
Draft BS EN 63567-4 Semiconductor devices. Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 4. Evaluation methods for dimensional accuracy of laser dicing process
Vydáno: 2025-06-20
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN IEC 63378-3:2025
Thermal standardization on semiconductor packages Thermal circuit simulation models of discrete semiconductor packages for transient analysis
Vydáno: 2025-06-24
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
Vydáno: 2023-04-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
172 Výsledky
První strana123...8910111214Poslední strana